[发明专利]闪烁体的性能测试系统及其标定方法在审
| 申请号： | 202010760174.3 | 申请日： | 2020-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN111965692A | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 侯超;黄晰燕;盛祥东;王亚平;吕洪奎;刘佳;赵静 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 郭栋梁 |
| 地址： | 100049 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种闪烁体的性能测试系统及其标定方法，所述系统包括第一探头，第一探头包括第一闪烁体探头和第二闪烁体探头，且第一闪烁体探头放置于第一层，第二闪烁体探头放置于第二层，第一层与第二层相互平行；至少一个测试通道，至少一个测试通道之间相互平行，且均位于第一层和所述第二层之间，每个测试通道用于放置被测试闪烁体，每个测试通道的一端分别设置有一个光探测器件；数据采集模块，第一闪烁体探头、第二闪烁体探头和每个测试通道分别设置一个数据采集模块，用于将信号进行处理并传输至计算机。本公开的测试系统结构简单，无需放射源，安全稳定，实现了多块闪烁体的批量测试，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 闪烁 性能 测试 系统 及其 标定 方法 | ||
【主权项】：
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