[发明专利]一种用于光谱分析的偏振调制光谱测试装置与测试方法有效
| 申请号： | 202010762927.4 | 申请日： | 2020-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN111948156B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 庄新港;史学舜;张鹏举;刘红博;刘长明 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/01;G01N21/55 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人： | 陈岚崴 |
| 地址： | 266000 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于光谱分析的偏振调制光谱测试装置与测试方法，其中测试装置，包括漫反射光谱采集系统，还包括反射光谱测试附件、偏振角调制附件和偏振度调制附件；所述反射光谱测试附件包括样品台底座、样品台旋转底座、入射光方位角调节支杆、反射光方位角调节支杆、入射光天顶角调节旋钮及反射光天顶角调节旋钮。本发明提出三种偏振调制光谱测试附件，可实现偏振角调制光谱、反射率线偏振度光谱和反射率偏振度光谱测试系统的快速搭建，降低了偏振调制采集系统的成本和装置复杂度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光谱分析 偏振 调制 光谱 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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