[发明专利]参数估计方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010766380.5 申请日: 2020-08-03
公开(公告)号: CN111856389A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 葛启超;郭艺夺;张永顺;冯为可;胡晓伟 申请(专利权)人: 中国人民解放军空军工程大学
主分类号: G01S3/14 分类号: G01S3/14;G01S7/41;G06F17/16
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 衡滔
地址: 710038 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 本申请提供一种参数估计方法、装置、电子设备及存储介质,获取利用天线阵列接收到的信号的协方差矩阵;信号包括:L个期望信号和噪声信号;天线阵列的天线阵元之间存在与各个期望信号到达到天线阵列上的入射角度相关的互耦;对协方差矩阵进行特征分解,得到噪声子空间;根据期望信号的导向矢量和噪声子空间Un的正交特性,得到过渡矩阵a(θl)为第l个期望信号的导向矢量;θl为第l个期望信号到达到天线阵列上的入射角度,v(θl)=[cTl),01×M‑P]T;C(θl)=toplitze[v(θl)],c(θl)=[1,c1l),…,cP‑1l)]T为第l个期望信号对应的互耦系数向量;基于过渡矩阵,得到各个期望信号的入射角度和对应的互耦系数向量;利用过渡矩阵估计出期望信号的入射角度和对应的互耦系数向量,避免凸优化求解过程和迭代的过程,降低计算复杂度。
搜索关键词: 参数估计 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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