[发明专利]成膜方法在审

专利信息
申请号: 202010772873.X 申请日: 2020-08-04
公开(公告)号: CN112391605A 公开(公告)日: 2021-02-23
发明(设计)人: 佐藤润;菊地宏之;深田健宏 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: C23C16/30 分类号: C23C16/30;C23C16/455;C23C16/513
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及成膜方法。提供一种技术,其能够将硅氧化膜埋入于凹部而不容易因随后的蚀刻工序出现接缝。基于本公开的一个方式的成膜方法具有如下步骤:使氨基硅烷气体吸附于表面形成有凹部的基板上的步骤;向上述基板供给氧化气体,对吸附于上述基板上的上述氨基硅烷气体进行氧化,从而使硅氧化膜堆积于上述基板上的步骤;和,利用等离子体将包含氮气及氢气的混合气体活化后供给至上述硅氧化膜,从而进行上述硅氧化膜的改性处理的步骤。
搜索关键词: 方法
【主权项】:
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