[发明专利]一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置及方法在审
| 申请号： | 202010776659.1 | 申请日： | 2020-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN111811782A | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 李响;白东伟;高亮;安岩;宋延嵩 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01M11/02;G01S7/497;G01B11/00;G01B11/24;G01C1/00;G01N21/25 |
| 代理公司： | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人： | 郭佳宁 |
| 地址： | 130022 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明属于光学检测与装校技术领域，具体涉及一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置及方法；包括用于固定空间碎片测距成像复合光学系统的五维精密装校平台和多焦面平行光管，五维精密装校平台和多焦面平行光管分别安装在处于水平状态的光学平台两端；能够对空间碎片测距成像复合光学系统中各组件进行精密装校与全面指标专项检测，无需令被检设备转换场地、反复拆装，检测指标全面，避免运输与反复拆装的风险，提高了装校精度以及效率，而且利用多焦面平行光管的特点，解决了以往需多台检测设备联合检测的工作流程，使用同一装置进行多项指标的检测与高精度装校，大大提高了工作效率，节约了成本激光。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 空间 碎片 测距 成像 复合 光学系统 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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