[发明专利]一种基于微机电系统的晶圆测试微细探针在审
申请号: | 202010779495.8 | 申请日: | 2020-08-05 |
公开(公告)号: | CN111929479A | 公开(公告)日: | 2020-11-13 |
发明(设计)人: | 刘凯;殷岚勇 | 申请(专利权)人: | 苏州韬盛电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R31/26;B81C1/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于微机电系统的晶圆测试微细探针,包括探针主体,所述探针主体呈近似“L”型结构,所述探针主体包括第一端部、第二端部,以及位于第一端部、第二端部之间、用于连接第一端部、第二端部的连接部,所述连接部上设有平行于所述连接部的凹槽,所述凹槽前后贯通于所述连接部。本发明的探针可用于微小间距的芯片测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 微机 系统 测试 微细 探针 | ||
【主权项】:
暂无信息
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