[发明专利]一种等离子体固样分析发射光谱仪在审

专利信息
申请号: 202010780834.4 申请日: 2020-08-06
公开(公告)号: CN111948193A 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: 段忆翔;代渐雄;杨燕婷 申请(专利权)人: 成都西奇仪器有限公司
主分类号: G01N21/73 分类号: G01N21/73;H01J49/16;H01J49/10
代理公司: 成都其高专利代理事务所(特殊普通合伙) 51244 代理人: 梁周霆
地址: 610000 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种等离子体固样分析发射光谱仪,包括气路系统、激发源装置、固体样品直接引入装置(11)、收光装置及上位机,所述气路系统连接激发源装置,收光装置与上位机相连接;所述固体样品直接引入装置(11)用于放置固体样品(10),且激发源装置能够释放等离子体射流(18)至固体样品(10)上,等离子体射流(18)与固体样品(10)表面作用时能够形成发射光(17)并被收光装置所接收;克服现有技术的不足之处,在进行固样分析时,无需对样品进行复杂的消解处理过程,大大降低了操作过程的繁琐程度;同时,避免了酸、碱等化学试剂的使用,不会对环境造成污染。
搜索关键词: 一种 等离子体 分析 发射 光谱仪
【主权项】:
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