[发明专利]一种用于定量荧光测量的校准方法及校准配件有效
| 申请号： | 202010783184.9 | 申请日： | 2020-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN111982869B | 公开（公告）日： | 2023-09-19 |
| 发明（设计）人： | 董美丽;倪敬书;吴鹏;王贻坤;花昌义;何腾超;钟卫帅;郭超;王霞 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院;安徽易康达光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/01;G01N21/27 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 230031 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及了一种用于定量荧光测量的校准方法及校准配件，校准方法包括以下步骤：首先测量激发光源的光源强度，测量荧光标记试剂的荧光及温度，然后测量待测物的荧光背景信号及与荧光标记试剂反应后的荧光信号及待测物的温度；通过与校准模型进行匹配，获得校准参数，对待测样品荧光信号进行校准，并对荧光背景进行修正，计算得到待测成分的浓度。此外，本发明还提供了一种用于定量荧光测量的校准配件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 定量 荧光 测量 校准 方法 配件 | ||
【主权项】：
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