[发明专利]晶片搬送装置在审
申请号: | 202010788583.4 | 申请日: | 2020-08-07 |
公开(公告)号: | CN112397427A | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 柿沼良典 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/68 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 乔婉;于靖帅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供晶片搬送装置,其能够在利用晶片搬送装置保持着晶片的状态下进行晶片的定位。该晶片搬送装置具有:保持板,其具有与晶片的一个面面对的保持面;吸引保持部,其按照在保持面上露出的方式设置,以非接触的方式对与保持面面对的晶片进行吸引保持;三个以上的限制部件,它们分别具有能够自转的辊部,通过使辊部与吸引保持部所吸引保持的晶片的外周缘接触,限制晶片的在与晶片的一个面平行的方向上相对于保持板的移动;以及移动单元,其与保持板连接,使保持板移动,从而搬送晶片,三个以上的限制部件中的至少一个限制部件是旋转驱动部,该旋转驱动部在辊部与晶片的外周缘接触的状态下使辊部自转而使晶片旋转。 | ||
搜索关键词: | 晶片 装置 | ||
【主权项】:
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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