[发明专利]一种基于比色的紫外双波长辐射测温方法在审
| 申请号： | 202010799098.7 | 申请日： | 2020-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN111928951A | 公开（公告）日： | 2020-11-13 |
| 发明（设计）人： | 张金涛;董伟;卢小丰 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京华仁联合知识产权代理有限公司 11588 | 代理人： | 陈建 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于比色的紫外双波长辐射测温方法，对具有高温表面的待测温物体进行测量；提供第一紫外波长探测器和第二紫外波长探测器，所述第一紫外波长探测器和第二紫外波长探测器分别对所述高温表面的辐射信号进行探测；所述第一紫外光探测器采集第一紫外光信号，所述第二紫外光探测器采集第二紫外光信号；所述第一紫外光信号和第二紫外光信号之间具有小于等100nm的波长差。本发明可以逼近表面真实温度，并且能够近乎消除观测窗口被污染给测量造成的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 比色 紫外 波长 辐射 测温 方法 | ||
【主权项】：
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