[发明专利]高速串行接口芯片的非线性度测试方法及其装置在审
| 申请号： | 202010808008.6 | 申请日： | 2020-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN114079459A | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 王浩南;葛云龙;钟英权 | 申请（专利权）人： | 上海钫铖微电子有限公司 |
| 主分类号： | H03L7/087 | 分类号： | H03L7/087;H03L7/097 |
| 代理公司： | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人： | 吴珊;成春荣 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种高速串行接口芯片的非线性度测试方法及其装置，几乎不需要任何测试设备，测试成本极低。该方法包括：提供第一本振时钟至数据源，提供第二本振时钟至待测芯片，所述第一本振时钟与所述第二本振时钟的频率不同；所述数据源输出数据信号至所述待测芯片，所述待测芯片包括时钟与数据恢复电路；所述时钟与数据恢复电路锁定后，对所述待测芯片生成的控制数码进行采样，计算所述控制数码的统计值并根据所述统计值计算差分非线性度和积分非线性度。 | ||
| 搜索关键词： | 高速 串行 接口 芯片 非线性 测试 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海钫铖微电子有限公司，未经上海钫铖微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010808008.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种动车组智能检修系统及控制方法
- 下一篇：一种分布式彩色幕墙组件的制作方法
