[发明专利]一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法有效
申请号: | 202010825528.8 | 申请日: | 2020-08-17 |
公开(公告)号: | CN111953968B | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 叶松;张紫杨;朱保华;李树;张文涛;王方原;汪杰君;王新强;陈妮艳 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 541004 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供的是一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法。其过程包括:A1,对中心波长为λ1的入射光进行空间调制偏振成像,得到包含偏振信息的干涉图像;A2,对干涉图像进行变换在频域中找到中心波长λ1窄带宽入射光的Stokes矢量被调制的位置的坐标;A3,通过确定偏振信息在被调制后在频域中的位置参数计算出像元的平均长度;A4,分别计算出像元在行和列方向上的长度D1和D2;A5,通过D1和D2计算出成像相机整体在行和列上的长度,同时还能计算出像元的长宽比值,检测像元是否正确。本发明可用于相机像元尺寸的检测,可广泛用于成像设备制造检测等领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 空间 调制 偏振 成像 检测 像面长 宽和 像元长宽 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于桂林电子科技大学,未经桂林电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010825528.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。