[发明专利]半导体结构在审
申请号: | 202010825708.6 | 申请日: | 2020-08-17 |
公开(公告)号: | CN112510038A | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 王朝勋;李振铭;赵高毅;王美匀;周沛瑜;陈国儒 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/088 | 分类号: | H01L27/088;H01L21/8238 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 刘潇;黄艳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种半导体结构,包括:源极/漏极部件,设置于半导体层中、金属栅极堆叠,设置于第一层间介电层中并邻近源极/漏极部件、第二层间介电层,设置于金属栅极堆叠上方、以及源极/漏极接触件,设置于源极/漏极部件上方。所述半导体结构还包括气隙,设置于源极/漏极接触件的底部的侧壁与第一层间介电层之间,其中源极/漏极接触件的顶部的侧壁与第二层间介电层直接接触。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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