[发明专利]一种针对薄层刻画的方法及系统在审
| 申请号： | 202010826157.5 | 申请日： | 2020-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN114076980A | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 马琦琦;段太忠;廉培庆;张文彪;赵磊;李蒙 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
| 主分类号： | G01V1/30 | 分类号： | G01V1/30;G01V1/36 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 吴大建;朱明明 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种针对薄层刻画的方法及系统，其中，该方法包括获取研究区分角度叠加数据体，并通过叠前反演获取研究区的背景纵横波速度比值。获取用于表征零偏移距数据与实测地震数据之间关系的目标函数，其中，所述移距数据为纵波阻抗反射率褶积子波结果。利用获取的目标函数，对分角度叠加数据体进行反演处理，获得研究区的真实零偏移距地震反射数据。获取基于反演得到的真实零偏移距反射数据的基础上，获取零偏移距反射数据的奇偶分量权系数，在此基础上获取提高分辨率后的零偏移距反射数据。利用分步方法，获取零偏移距信息，再在零偏移距信息的基础上进行奇偶分量分解，提高反射数据纵向分辨率，整个过程相对多角度叠加数据直接反演更加稳定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 薄层 刻画 方法 系统 | ||
【主权项】：
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