[发明专利]基于层次化可靠性验证的单元替换的时序优化设计方法有效

专利信息
申请号: 202010836466.0 申请日: 2020-08-19
公开(公告)号: CN112036107B 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 常玉春;刘岩;马艳华;娄珊珊;杨刚;聂国健;于迪;李欣荣;余昭杰 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G06F30/337 分类号: G06F30/337;G06F30/3315;G06F119/02;G06F119/12
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 刘秋彤;梅洪玉
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明提供了一种基于层次化可靠性验证的单元替换的时序优化设计方法,属于数字电路可靠性设计领域,适用于可靠性引起的电路时序违背优化设计。该设计由晶体管退化模型抽象出标准单元的退化时序模型,从而生成退化的单元库,利用退化的单元库对数字电路进行时序分析,大大节省大规模数字电路可靠性验证的时间,提高验证效率。针对时序违背路径,采用单元替换进行时序优化,实现在设计早期阶段考虑HCI、NBTI和TDDB效应对电路时序的影响。
搜索关键词: 基于 层次 可靠性 验证 单元 替换 时序 优化 设计 方法
【主权项】:
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