[发明专利]探测准直单元、探测装置及SPECT成像系统在审
| 申请号： | 202010840410.2 | 申请日： | 2020-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN114076972A | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 马天予;刘亚强;王学武;王忠 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01T1/164 | 分类号： | G01T1/164;G01T1/202 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种探测准直单元、探测装置及SPECT成像系统，探测准直单元包括：闪烁晶体阵列，用于接收被检测物体内的放射源发射的伽马光子；若干个光电器件，用于接收伽马光子并将其转换为数字信号；闪烁晶体阵列包括若干个闪烁晶体，若干个闪烁晶体大体平行且间隔布置，每个闪烁晶体具有端面和可接收放射源发射射线的侧面；若干个光电器件耦合于若干个闪烁晶体的端面。本发明的探测准直单元可以用于取代SPECT成像时所需重金属准直器，减少伽马光子的损失，并避免伽马光子在探测准直单元内被电路板和光电器件的吸收，显著提高SPECT成像的空间分辨率和探测效率。同时还避免了在重金属准直器中加工多个小平行孔或者针孔的加工工艺难度，简化了加工工艺。 | ||
| 搜索关键词： | 探测 单元 装置 spect 成像 系统 | ||
【主权项】：
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