[发明专利]显影处理方法和显影处理装置在审

专利信息
申请号: 202010849612.3 申请日: 2020-08-21
公开(公告)号: CN112445086A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 甲斐亚希子;一之宫博 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: G03F7/30 分类号: G03F7/30;G03F7/42
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 涉及显影处理方法和显影处理装置。降低形成对水的接触角大的抗蚀膜时的缺陷数。显影处理方法对基板上的抗蚀膜进行显影处理,包括:工序(A),向前述基板供给显影液以使前述抗蚀膜进行显影,形成抗蚀图案;工序(B),向显影后的前述基板供给水系清洗液,用该水系清洗液对该基板进行清洗;工序(C),在用前述水系清洗液清洗了的前述基板上涂布水溶性聚合物的水溶液,在前述基板表面形成具有亲水性的亲水性层;和,工序(D),对形成有前述亲水性层的基板用冲洗液进行清洗,前述工序(B)包括使前述基板的转速加速的工序(a)和在前述工序(a)后直至前述工序(C)开始之间使前述基板的转速减速的工序(b),前述工序(b)中的减速度小于前述工序(a)中的加速度。
搜索关键词: 显影 处理 方法 装置
【主权项】:
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