[发明专利]一种靶区轮廓的分析方法、装置、存储介质及电子设备有效
申请号: | 202010853754.7 | 申请日: | 2020-08-21 |
公开(公告)号: | CN111986254B | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
发明(设计)人: | 王辛;姚宇;周继陶;沈亚丽;陈哲彬;王世超;罗旭;王丹;陈晓清;舒佩;窦猛;欧阳淦露;文含;王芳 | 申请(专利权)人: | 四川大学华西医院;中科院成都信息技术股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/62 | 分类号: | G06T7/62;G06T7/181;G06T7/00 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 蒋姗 |
地址: | 610000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本申请提供一种靶区轮廓的分析方法、装置、存储介质及电子设备,方法应用于电子设备,所述方法包括:获取用户针对靶区勾画的靶区轮廓;计算出所述靶区轮廓与所述靶区预设的靶区标准轮廓的重合度;通过分析所述重合度,以对所述靶区轮廓进行评估。通过电子设备自动计算用户即学生勾画的靶区轮廓与靶区标准轮廓的重合度,再通过电子设备自动分析该重合度,以确定出该勾画的靶区轮廓的准确度,整个过程无需人工参与,实现了高效的对勾画的靶区进行分析评估。 | ||
搜索关键词: | 一种 轮廓 分析 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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