[发明专利]一种岩土地质勘察深度的测量方法及装置在审
| 申请号： | 202010855057.5 | 申请日： | 2020-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN112030928A | 公开（公告）日： | 2020-12-04 |
| 发明（设计）人： | 赵玉国;张朝 | 申请（专利权）人： | 江苏科泰岩土工程有限公司 |
| 主分类号： | E02D1/02 | 分类号： | E02D1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 225300 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种岩土地质勘察深度的测量方法及装置，涉及地质勘探领域。该一种岩土地质勘察深度的测量的装置，包括底板，所述底板的两端均贯穿设置有调节装置，所述调节装置包括转动套，所述转动套的中部贯穿设置有第二螺杆，所述底板的上端两侧且靠近调节装置均固定连接有水平珠，所述第二螺杆的下端固定连接有支撑底座，所述底板的上端中部拼接固定设置有背板，所述背板的正面一侧设置有刻度，所述刻度的背面设置有凹槽，所述凹槽的内部设置有伸缩杆，所述伸缩杆的一端和背板转动连接。通过调节装置可以调底板的水平节，有助于测量，同时伸缩杆可以收纳，方便了装置的携带。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 岩土 地质 勘察 深度 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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