[发明专利]一种微推力测量装置有效
| 申请号： | 202010855789.4 | 申请日： | 2020-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN112213015B | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 王小菊;王威屹;祁康成;曹贵川 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01L5/12 | 分类号： | G01L5/12 |
| 代理公司： | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 | 代理人： | 谢建 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微推力测量装置，属于测力装置技术领域，具体涉及微推力测量技术领域，包括支架，所述支架的上部一侧设置有固定架，所述固定架上安装有两个左右对称的XY位移平台，所述固定架的下方设置有力臂，所述力臂的一端通过顶针与所述支架活动连接，所述力臂上设置有可移动的推进器固定座，每个所述XY位移平台与所述力臂之间通过扭丝连接，所述扭丝、所述力臂及位于所述XY位移平台上的所述扭丝的连接线之间形成直角梯形。在推力器的推力不变的情况下，根据测试实际所用真空仓的大小，对测量装置的L、L3、L2、L1中的单个或者几个长度值进行更改，使角位移变大，实现对灵敏度的提升，使分辨力变小，测量更加精确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 推力 测量 装置 | ||
【主权项】：
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