[发明专利]一种FLASH芯片的测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 202010858517.X | 申请日： | 2020-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN111968698B | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 张辉;胡来胜;张弛 | 申请（专利权）人： | 深圳三地一芯电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 广东良马律师事务所 44395 | 代理人： | 张柯 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区坂田街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FLASH芯片的测试系统及测试方法，测试方法包括：子服务器通过交换机与所述主服务器建立连接；子服务器获取主服务器下发的配置参数，将配置参数转发至测试机台；测试机台根据配置参数执行对应的配置操作，并将执行结果反馈至子服务器；子服务器将测试机台反馈的执行结果转发至主服务器。本发明实施例通过一个PC端的服务器来管理多个生产设备，同时每个生产设备也可以根据需要自己配置参数，这样NAND flash产品的生产工厂可根据需要，选择集中或单独管理设备的生产，通过软件实现NANDflash的生产和检测，采用低功耗的处理器芯片+DRAM+EMMC实现，多个单位整合成一台设备，降低耗电和发热。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 flash 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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