[发明专利]eMMC芯片测试系统和通断电测试方法在审
| 申请号： | 202010859593.2 | 申请日： | 2020-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN112053738A | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 李斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689 | 代理人： | 林国友 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种eMMC芯片测试系统和通断电测试方法，运用于存储芯片安全性测试技术领域，其由XU4平台和eMMC芯片测试平台组成eMMC测试系统，XU4平台包括数据传输电路、存储设备、XU4主控芯片、第一信号传输接口、电源模块和第一电源接口，XU4主控芯片与第一信号传输接口连接，电源模块与第一电源接口连接；eMMC芯片测试平台包括第二电源接口、第二信号传输接口、电压转换模块和测试芯片电路，第二电源接口与电压转换模块连接，电压转换模块具有第一输出端和第二输出端均接入测试芯片电路，第二信号传输接口与测试芯片电路连接；可模仿任何时候eMMC芯片的意外或故意通断电时的电源状态而达到对eMMC所有通断电状况下对数据传输影响的测试。 | ||
| 搜索关键词： | emmc 芯片 测试 系统 断电 方法 | ||
【主权项】：
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