[发明专利]图像传感器掺杂外延层形成方法在审

专利信息
申请号: 202010861521.1 申请日: 2020-08-25
公开(公告)号: CN114093901A 公开(公告)日: 2022-02-25
发明(设计)人: 秋沉沉;钱俊;孙昌;魏峥颖 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 王江富
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种图像传感器掺杂外延层形成方法,分次进行外延生长,每次外延生长后进行沟槽隔离及离子注入,形成贯穿大厚度掺杂外延层的深浅沟槽隔离。通过外延生长‑沟槽隔离→离子注入循环作业,每次所需的光刻胶及硬掩膜不需要太厚,在沟槽隔离及离子注入过程中光刻胶及刻蚀形貌较好,使制备出的图像传感器的残影问题得到改善。采用该图像传感器掺杂外延层形成方法形成大厚度掺杂外延层,能制备出适用于高量子效率、小像素尺寸、可用于近红外/红外的高性能图像传感器。
搜索关键词: 图像传感器 掺杂 外延 形成 方法
【主权项】:
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