[发明专利]头戴式RTK测量装置在审
| 申请号： | 202010864558.X | 申请日： | 2020-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN114088070A | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 李刚;蒋智 | 申请（专利权）人： | 千寻位置网络有限公司 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00;G01S19/43 |
| 代理公司： | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人： | 吴珊;须一平 |
| 地址： | 200438 上海市杨浦区国权北*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种头戴式RTK测量装置，实现低成本、高效率、高精度的RTK测量，包括：头戴式结构，位于头戴式结构上的信号接收单元、第一通信单元、定位单元、惯性传感器、摄像单元、第二通信单元和处理器，信号接收单元、惯性传感器和摄像单元随头戴式结构移动的位移具有一致性；显控模块，通过第二通信单元与处理器之间建立数据通信并用于执行显示控制操作；信号接收单元接收卫星信号和数据信号，第一通信单元根据卫星信号获取差分数据，定位单元根据差分数据计算信号接收单元的位置，惯性传感器用于计算头戴式结构的姿态信息，摄像单元用于计算光心与待测点的距离，处理器获取定位单元、惯性传感器和摄像单元的数据信号并计算待测点的坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 头戴式 rtk 测量 装置 | ||
【主权项】：
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