[发明专利]一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置

摘要

本发明公开了一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，包括上端开口的隔热箱体，该开口端采用透明隔绝罩密封，沿着箱体的纵向方向所述隔热箱体的内部被自上而下的分隔为传导区和对流区；还包括设置在箱体内部的承载板和安装在承载板下方的高度调节机构，所述高度调节机构用于调节所述承载板在箱体中的位置高度；在所述承载板的上表面按矩形阵列分布的形式开设若干个薄膜槽，每个薄膜槽的底部安装有热电偶探头，所述的热电偶探头的信号输出端与数据记录仪相连。本测试装置能够一次性执行对多个辐射制冷薄膜样片的测试，同时通过上下移动的承载板能够实现在不同热对流系数条件下的降温测量。