[发明专利]三维存储器的制造方法有效
申请号: | 202010870228.1 | 申请日: | 2020-08-26 |
公开(公告)号: | CN111968985B | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 刘云飞 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H10B41/35 | 分类号: | H10B41/35;H10B41/20;H10B43/35;H10B43/20 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 杜娟;骆希聪 |
地址: | 430079 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及一种三维存储器的制造方法,包括:提供半导体结构,所述半导体结构具有衬底、形成于所述衬底上的堆叠结构,所述堆叠结构包括核心存储区以及台阶区;在所述核心存储区和所述台阶区上方覆盖介质层;在所述台阶区上方的介质层上方覆盖第一光阻层;对所述第一光阻层进行曝光形成超交联结构层;在所述超交联结构层上方覆盖第二光阻层;去除所述核心存储区上方的介质层;以及去除所述台阶区上方的所述第二光阻层和所述超交联结构层。根据该制造方法,可以减少核心区平坦化工艺中的光阻用量,并能有效地保护台阶区和核心存储区的三维结构,避免出现凹陷缺陷。 | ||
搜索关键词: | 三维 存储器 制造 方法 | ||
【主权项】:
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