[发明专利]一种基于称重的箔带横断面轮廓测量方法有效
| 申请号： | 202010871183.X | 申请日： | 2020-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN112122365B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 何安瑞;于海军;刘超;邵健;王晓晨;孙文权 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | B21B38/02 | 分类号： | B21B38/02 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于称重的箔带横断面轮廓测量方法，属于板带压延技术领域。该方法首先在箔带卷厚度稳定段截取箔带样片，然后用取样器沿着箔带样片宽度方向截取尺寸相同的若干箔带小条，同时记录箔带小条在箔带样片宽度方向的位置，通过厚度计算公式计算得到各箔带小条厚度，最后以箔带小条位置为横坐标，箔带小条厚度为纵坐标绘图，便得到箔带样片宽度方向上的厚度分布情况，即箔带横断面轮廓。由于箔带很薄，横断面的厚差较小，一般小于10μm，传统的测量方法难以得到精确的箔带厚度。本发明通过实测箔带小条质量计算得到箔带厚度，避免了箔带厚度测量设备精度校核不准导致的厚度测量误差，可得到精确的箔带横断面轮廓。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 称重 横断面 轮廓 测量方法 | ||
【主权项】：
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