[发明专利]一种三维纳米X射线显微镜专用样品的制备方法有效
| 申请号： | 202010883284.9 | 申请日： | 2020-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN112113811B | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 王绍钢;李长记;张磊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院金属研究所 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 | 代理人： | 张志伟 |
| 地址： | 110016 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明属于X射线成像技术领域，特别涉及一种三维纳米X射线显微镜专用样品的制备方法。该方法包括如下步骤：选择初加工方法制备初始样品；根据材料硬度选择砂纸，将初始样品打磨到粗糙度小于3微米；选择锋利度高的刀片，刀片边缘形貌为直线，能够切出直线度好的边，在初始样品上采取两刀法切取尖角样品；选择快干胶，将尖角样品粘在大头针或类似金属棒材一端，放置24小时后，进行三维纳米X射线显微镜不同空间分辨率和不同衬度的三维成像测试。本发明可以大大减小样品制备难度，满足不同材料50纳米空间分辨三维成像的需求。利用三维纳米X射线显微镜获得金属、陶瓷和复合材料等多尺度构筑非均匀材料内部更多的结构信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 三维 纳米 射线 显微镜 专用 样品 制备 方法 | ||
【主权项】：
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