[发明专利]基于斐波那契光子筛的变剪切比四波剪切干涉仪有效
| 申请号： | 202010887578.9 | 申请日： | 2020-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN112013973B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 张军勇;张秀平;张艳丽;唐顺兴;朱健强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于斐波那契光子筛的变剪切比四波剪切干涉仪，包括待测波前、斐波那契光子筛、小孔光阑、第一三维平移台、聚焦透镜、第二三维平移台、图像探测器、第三三维平移台和计算机，本发明从四波横向剪切干涉图中提取两正交方向的差分波前信息，结合波前重构算法，快速实现待测波前的高精度重构；本发明通过斐波那契光子筛实现四波剪切干涉仪剪切比的调节，可提高四波剪切干涉仪的波前检测精度，可扩展四波剪切干涉仪的应用范围，可简化四波剪切干涉仪的组成结构。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光子 剪切 干涉仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所，未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010887578.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种防划伤酒起子
- 下一篇：一种具有抚平功能的皮革定量切割装置
