[发明专利]一种高压氢钝化提升晶硅电池效率的方法在审
申请号: | 202010890932.3 | 申请日: | 2020-08-29 |
公开(公告)号: | CN112086539A | 公开(公告)日: | 2020-12-15 |
发明(设计)人: | 戴希远;陆明 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;陆尤 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于光伏技术领域,具体为一种高压氢钝化提升晶硅电池效率的方法。本发明将晶硅PN结经过高压氢气钝化处理,来减弱PN结中悬挂键等缺陷的电学活性,增加少数载流子的寿命。采用本发明方法处理的PN结制备的晶硅太阳电池,其外量子效率在300nm‑1100nm的范围均得到提升,光电转化效率可相对提升10%以上。这种新型的氢钝化工艺能够减少载流子复合的电流损失,低成本地实现晶硅电池的效率提升。 | ||
搜索关键词: | 一种 高压 钝化 提升 电池 效率 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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