[发明专利]用以检测外部端子处的测试探测接触的方法和设备在审
| 申请号： | 202010902175.7 | 申请日： | 2020-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN112447261A | 公开（公告）日： | 2021-03-05 |
| 发明（设计）人： | 藤原敬典;T·M·奥尼尔;亿田富夫 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请案涉及检测外部端子处的测试探测接触的方法和设备。一种实例设备包含：耦合到输入端子的输入缓冲器，其中所述输入缓冲器经配置以基于在所述输入端子处接收到的电压提供输入信号；测试端子，其经配置以接收探测信号；以及电力供应端子，其经配置以接收外部供应电压。所述实例设备进一步包含测试逻辑电路，其经配置以响应于所述探测信号指示测试且外部供应电压检测信号具有指示所述外部供应电压的检测的值，起始探测接触检测测试。在所述起始探测接触检测测试期间，所述测试逻辑电路经配置以接收所述输入信号，且提供具有基于所述输入信号的值的输出信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用以 检测 外部 端子 测试 探测 接触 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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