[发明专利]粗糙度测试仪在审
申请号: | 202010906081.7 | 申请日: | 2020-09-01 |
公开(公告)号: | CN112461120A | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 和泉直树 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | G01B7/34 | 分类号: | G01B7/34 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供了粗糙度测试仪,其提高了测量效率和粗糙度测量精度。粗糙度测试仪包括:触针单元,其包括触针和触针位移检测单元,触针以从滑动部的通孔突出和缩回到通孔中的方式设置并且沿着工件的表面进行扫描运动,触针位移检测单元被构造为检测触针的位移;以及驱动单元,其使触针单元在驱动轴线方向上前后移动。粗糙度测试仪还包括高度检测器,其以面向主体容纳部的前端面且使滑动部介于高度检测器与前端面之间的方式设置,并且该高度检测器检测物体在与测量轴线平行的方向上的高度。当高度检测器检测到在测量轴线方向上物体的高度与主体支撑脚的高度相同时,驱动单元自动开始驱动,从而使触针单元对工件表面进行扫描测量。 | ||
搜索关键词: | 粗糙 测试仪 | ||
【主权项】:
暂无信息
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