[发明专利]一种半导体级硅的等离子体喷涂工艺有效
申请号: | 202010906602.9 | 申请日: | 2020-09-02 |
公开(公告)号: | CN111962007B | 公开(公告)日: | 2022-09-30 |
发明(设计)人: | 张宇 | 申请(专利权)人: | 苏州合志杰新材料技术有限公司 |
主分类号: | C23C4/134 | 分类号: | C23C4/134;C23C4/08;H01M10/0525 |
代理公司: | 杭州君和专利代理事务所(特殊普通合伙) 33442 | 代理人: | 包雪雷 |
地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体级硅的等离子体喷涂工艺,包括以下步骤:S1:将等离子体喷涂装置的两个夹持板相背移动;S2:将圆形半导体晶片放在所述等离子体喷涂装置的两个安装槽内;S3:启动所述等离子体喷涂装置的驱动电机,驱动电机转动带动转动轴转动,实现第一转动杆和第一锥齿轮转动,第一转动杆转动带动第二转动杆转动,实现连接板和两个安装板往复移动,进而实现圆形半导体晶片往复移动;S4:待驱动电机稳定工作时,启动所述等离子体喷涂装置的两个等离子发射器,通过等离子发射器可以对圆形半导体晶片的表面进行等离子喷涂。本发明可以对圆形半导体晶片进行有效均匀且高效的等离子喷涂。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 等离子体 喷涂 工艺 | ||
【主权项】:
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C4-00 熔融态覆层材料喷镀法,例如火焰喷镀法、等离子喷镀法或放电喷镀法的镀覆
C23C4-02 .待镀材料的预处理,例如为了在选定的表面区域镀覆
C23C4-04 .以镀覆材料为特征的
C23C4-12 .以喷镀方法为特征的
C23C4-18 .后处理
C23C4-14 ..用于长形材料的镀覆
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