[发明专利]基于光栅投影三维成像的多光谱三维形貌测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010912830.7 申请日: 2020-09-03
公开(公告)号: CN112097688B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 魏溉;张松;郑丽丽;张辉;张宇鹏;赵雄涛 申请(专利权)人: 清华大学;中国航天科工飞航技术研究院
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G06T17/20
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 罗文群
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基于光栅投影三维成像的多光谱三维形貌测量方法及装置,属于无损检测技术领域。本发明装置主要包括信号处理器、光谱分析仪、多光谱图像采集仪、多光谱投影仪。本发明方法可以在测量表面颜色、材质不均匀的物体时自适应性调节装置所工作的光谱波段,针对所测量物体不同区域光谱发射率不同的情况自动规划待测量光谱集,并通过多光谱图像数据融合的方法提高测量的整体精度,而且测量速度快,测得点云密集,点云泊松重构得到的物体表面三维形貌细节丰富。本发明大幅提高了光学三维形貌测量技术对测量环境的适应性,可以应用于材料的健康检测系统中。
搜索关键词: 基于 光栅 投影 三维 成像 光谱 形貌 测量方法 装置
【主权项】:
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