[发明专利]电子元件测试自动密封装置在审
| 申请号： | 202010914084.5 | 申请日： | 2020-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN112197797A | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 胡冲;鲍军其;刘治震;戴雅萍;张磊 | 申请（专利权）人： | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D11/24 | 分类号： | G01D11/24 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 赵洁修 |
| 地址： | 310051 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子元件测试自动密封装置，包括箱体、作业器、开合门及驱动机构。箱体具有测试腔，箱体的顶部及底部分别设有安装口及敞开口。作业器设于箱体的安装口，并与箱体滑动连接，具有对电子元件执行预设作业的作业部。开合门设于箱体的敞开口，包括第一开合门、转向件及第二开合门，第二开合门通过转向件转动连接第一开合门。驱动机构设于作业器的侧部，连接于第一开合门，驱动第一开合门靠近安装口运动，使开合门竖向设于测试腔；或驱动开合门遮蔽于敞开口。该电子元件测试自动密封装置能充分利用箱体的竖向空间，减小体积，结构紧凑，避免因体积过大带来的运动干涉问题，有利于多个箱体的集成，提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 测试 自动 密封 装置 | ||
【主权项】：
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