[发明专利]待测器件的自动测试系统在审
| 申请号： | 202010914782.5 | 申请日： | 2020-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN112114224A | 公开（公告）日： | 2020-12-22 |
| 发明（设计）人： | 陈冬冬 | 申请（专利权）人： | 合肥移瑞通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 戴冬瑾 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新区习友路33*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种待测器件的自动测试系统，其中，系统包括：待测板，待测板用于放置待测器件；测试仪表，测试仪表用于测量待测器件的状态数据；MCU开关控制板，MCU开关控制板分别与待测板和测试仪表相连，用于根据内置的待测PIN对待测器件进行检测；计算机，计算机分别与测试仪表和MCU开关控制板相连，用于控制MCU开关控制板中待测PIN的切换和测试仪表的切换，并从测试仪表中获取状态数据，并将状态数据与预设数据比较后输出测试结果。由此，不仅可以大大提升验证无源器件的效率，而且可以准确对测试的问题进行定位，大大提高测试的可靠性和准确性，提升器件的寿命验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 器件 自动 测试 系统 | ||
【主权项】：
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