[发明专利]纳米片场效应晶体管器件及其形成方法在审
申请号: | 202010919434.7 | 申请日: | 2020-09-04 |
公开(公告)号: | CN113130653A | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 杨世海;杨柏峰;姚茜宁;徐志安 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 朱亦林 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本公开涉及纳米片场效应晶体管器件及其形成方法。一种半导体器件,包括突出于衬底上方的鳍;鳍之上的源极/漏极区域;源极/漏极区域之间的纳米片,其中纳米片包括第一半导体材料;在纳米片之间并且在纳米片的相反端部处的内部间隔件,其中在每个内部间隔件与源极/漏极区域的相应源极/漏极区域之间存在气隙;以及鳍之上并且在源极/漏极区域之间的栅极结构。 | ||
搜索关键词: | 纳米 场效应 晶体管 器件 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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