[发明专利]一种存储器检测方法和装置有效
| 申请号： | 202010926371.8 | 申请日： | 2020-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN112053739B | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | 宁尚贤;吴滔 | 申请（专利权）人： | 上海思尔芯技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718 | 代理人： | 冯振华 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国(上海)自由*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本公开提供一种存储器检测方法和装置，其中所述存储器检测方法，包括：对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，确定第一检测状态；从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，读第三存储结果，确定第二检测状态；从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，读第四存储结果，确定第三检测状态；从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，读第五存储结果，确定第四检测状态；从第一存储单元开始对所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据、确定存储单元检测状态，确定第五检测状态；基于第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态确定存储器检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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