[发明专利]FPGA芯片内定值及参数单粒子效应的检错装置及方法有效
| 申请号： | 202010931932.3 | 申请日： | 2020-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN112181735B | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 叶海;周华良;郑玉平;崔玉;王海全;周建平;宋斌;夏雨;姜雷;吴通华;刘锐 | 申请（专利权）人： | 国电南瑞科技股份有限公司;国电南瑞南京控制系统有限公司;国家电网有限公司华东分部;国网江苏省电力有限公司;国网江苏省电力有限公司检修分公司;国家电网有限公司;南瑞集团有限公司;国网电力科学研究院有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/16 | 分类号： | G06F11/16;G06F11/14 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 211106 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了FPGA芯片内定值及参数单粒子效应的检错装置及方法，针对在电力二次装置内的FPGA芯片须配置的平台定值、参数等重要数据，通过三模冗余架构与时间反馈冗余架构相结合的架构实现了定值、参数等配置数据单粒子效应错误的监视与错误恢复。本发明实现了错误数据不出口及错误数据的即时恢复，解决了单粒子效应影响配置数据引起的误动、拒动或误操作等严重影响电力系统运行安全的问题，同时，不依赖于外部处理器。 | ||
| 搜索关键词： | fpga 芯片 内定 参数 粒子 效应 检错 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国电南瑞科技股份有限公司;国电南瑞南京控制系统有限公司;国家电网有限公司华东分部;国网江苏省电力有限公司;国网江苏省电力有限公司检修分公司;国家电网有限公司;南瑞集团有限公司;国网电力科学研究院有限公司，未经国电南瑞科技股份有限公司;国电南瑞南京控制系统有限公司;国家电网有限公司华东分部;国网江苏省电力有限公司;国网江苏省电力有限公司检修分公司;国家电网有限公司;南瑞集团有限公司;国网电力科学研究院有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010931932.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：智能融合终端台区拓扑识别方法及系统
- 下一篇：一种用于冷链物流的食物分拣装置
