[发明专利]一种基片厚度连续可调的微波电路测试夹具

摘要

本发明涉及一种基片厚度连续可调的微波电路测试夹具，包括第一压片层、金属滑块、第二压片层和弹簧螺钉；第一压片层上具有SMA接口的穿过孔、SMA连接器的固定螺孔和弹簧螺钉的固定螺孔，用于调节与固定夹具；第一压片层上具有三个突起的金属块，分别用于和金属滑块一起固定微波电路板和用于调整金属滑块和第二压片层的位置，从而调节夹具适用于不同厚度微波电路板；所述的金属滑块一侧具有斜坡，下端有一处3/4圆孔用于在夹具组合后与SMA连接器的第三固定孔相吻合；第二压片层上侧具有斜坡，下方有三个圆孔，利用弹簧螺钉将调节好的夹具进行固定。本发明的测试夹具既可以实现可靠的高频共地，同时也能适应不同厚度的微波电路基片。