[发明专利]一种测定键合丝银离子迁移速率的制具

摘要

本发明涉及键合丝品质验证技术领域，且公开了一种测定键合丝银离子迁移速率的制具，包括工作台，所述工作台的数量为两个，两个所述工作台前后对称分布，且两个所述工作台的下表面均对称固定有支撑片，四个所述支撑片呈矩形分布，两个所述工作台的两侧均开设有限位槽，所述限位槽为上下贯穿式结构，两个所述工作台均为相对侧开口的中空结构，且两个所述工作台的内部设有一个连接板；通过工作平台上的两侧限位槽，确保两根键合丝之间的距离恒定，以此达到检测条件要求，且结构简单，便于操作，提高了键合丝的检验效率。