[发明专利]SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备有效
| 申请号： | 202010940291.8 | 申请日： | 2020-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN112151106B | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 孙成思;孙日欣;李振华;毛邦柱;曹帆熙 | 申请（专利权）人： | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 郑昱 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备，该SSD老化测试方法包括：接收治具已到位信息，在第一开卡设备处电连接载有待测SSD的待测治具，并烧录第一测试程序至每一片待测SSD，待烧录完成，断开与待测治具的电连接；控制待测治具移动到处于空闲状态的第一温度箱体，在第一温度箱体中按照第一预设参数执行第一测试程序，并在检测到测试完成之后，控制待测治具移动到第二开卡设备；之后如上依次完成第二次开卡和第二次测试之后烧录出厂程序至每一片待测SSD，完成SSD老化测试。本发明实现了自动化SSD老化测试，能有效节省人力劳动，降低生产成本，减少人工操作失误造成损失，同时也能提高产量。 | ||
| 搜索关键词： | ssd 老化 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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