[发明专利]X射线测量装置的校正方法在审
| 申请号： | 202010940511.7 | 申请日： | 2020-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN112461165A | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 今正人;真家洋武;佐佐木诚治;宫仓常太 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B15/04 | 分类号： | G01B15/04;G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：前段特征位置计算工序，将配置于N个部位的球的平行移动进行多次，确定处于N个部位的球各自的投影像的重心位置；单独矩阵计算工序，针对球分别计算单独投影矩阵；单独位置计算工序，基于单独投影矩阵来计算球各自的移动位置；坐标统一工序，计算球的特定的相对位置间隔；后段特征位置计算工序；变换矩阵计算工序，计算投影变换矩阵；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而发生变形，也能够通过简单的工序容易地计算例如将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 测量 装置 校正 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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