[发明专利]集成电路封装结构、集成电路封装单元及相关制造方法在审

专利信息
申请号: 202010944603.2 申请日: 2020-09-10
公开(公告)号: CN112509991A 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 蒲应江;蒋航 申请(专利权)人: 成都芯源系统有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/367;H01L23/373;H01L21/50;H01L21/56
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四川省成都市成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 提出了一种集成电路(IC)封装结构、封装单元及制作IC封装结构的方法。该IC封装结构可以包括面板状的封装单元阵列,其中每个封装单元中至少封有一个IC芯片/晶片;包封材料层,填充各封装单元之间的空隙,至少部分地包裹各封装单元中的IC芯片/晶片,并且在对应于每个IC芯片/晶片的背面上的部分具有开口,将每个IC芯片/晶片的背面的全部或至少一部分暴露;以及金属层,采用电镀工艺制作于所述IC封装结构的整个背面侧并填充所述开口,使该金属层与每个IC芯片/晶片的背面的被暴露的部分直接接触,从而极大程度地提升IC芯片/晶片的散热能力。
搜索关键词: 集成电路 封装 结构 单元 相关 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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