[发明专利]一种测量微小材料样本多频点介电常数的装置与方法有效
| 申请号： | 202010953534.1 | 申请日： | 2020-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN112083233B | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 王彬;徐彻;蒙林;殷勇;李海龙;袁学松;张平 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 李朝虎 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量微小材料样本多频点介电常数的装置与方法，涉及材料科学领域，解决了目前材料的介电常数的值都对应于某一频段，并不能测试到对应具体频率的具体数值的介电常数的问题。本发明高频谐振结构，包括螺孔(5)和进出口(1)，所述进出口(1)用于放入或取出微扰体(3)，所述螺孔(5)用于螺纹连接调谐螺钉，所述高频谐振结构用于测量所述微扰体(3)的介电常数，所述调谐螺钉用于改变高频谐振结构的工作频率点。本发明克服了以往只能够测试某一频率范围内材料介电常数的困难，最终能够实现测试目标频率点对应的介电常数的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 微小 材料 样本 多频点 介电常数 装置 方法 | ||
【主权项】：
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