[发明专利]精密测量阿贝误差控制系统的使用方法有效

专利信息
申请号: 202010964643.3 申请日: 2020-09-15
公开(公告)号: CN112066881B 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 李凤英 申请(专利权)人: 成都明杰科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02
代理公司: 西安智财全知识产权代理事务所(普通合伙) 61277 代理人: 张鹏
地址: 610000 四川省成都市双流区*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种精密测量阿贝误差控制系统的使用方法,包括十字定位器和激光发射器,十字定位器上设有十字定位点,十字定位点和激光发射器的发射口位置对应,在激光发射器的下方固定有固定座,固定座背离激光发射器发射口的一侧设有微调板,在微调板的上表面设有旋钮,固定座固定在微调板上,并且能够通过旋钮调节固定座的横向位置,固定座的下方设有支撑座,支撑座与固定座之间留有间隙,在支撑座与微调板之间设有连接杆,在支撑座的下方固定有能够调节固定座水平度的水平调节座;通过对影响测量的阿贝误差的监测和调控,采用辅助设备将轴距影响控制在误差的合理范围内,提高精密测量时的精度。
搜索关键词: 精密 测量 误差 控制系统 使用方法
【主权项】:
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