[发明专利]一种单光路精确测量近远场基准与准直装置

摘要

一种单光路精确测量近远场基准与准直装置。在本发明中光路采用镀膜不同的双透镜，通过第一透镜内光的透射与反射，之后的光再通过第二透镜，分别可以在光路后的高分辨率CCD中呈现精确的近场(经过双透镜后缩小的图像)和远场(无穷远处聚焦)的光斑图像。而此时的近场和远场图像呈现在了同一幅图像之中。该装置较传统准直基准装置来说，结构简单，且准直结果同样精确，并且易于实现。通过此方法准直激光的光路，可以简化准直系统的设计方案，通过单一CCD便可以同时采集光路中精确的近远场图像，以此来达到快速准直光路的目的。