[发明专利]一种电子元器件焊接可靠性的组合评估试验方法在审

专利信息
申请号: 202010967027.3 申请日: 2020-09-15
公开(公告)号: CN112033473A 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 潘宇雄;汪旭;吴楠;王磊;匡芬;唐欢;易君谓 申请(专利权)人: 中车株洲电力机车研究所有限公司
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 廖元宝
地址: 412001 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种电子元器件焊接可靠性的组合评估试验方法,包括步骤:1)对待评估的电子元器件实施初始测试,初始测试包括外观测试和电性能测试;2)对待评估的电子元器件同步开展耐焊性和可焊性试验;3)对步骤2)中开展耐焊性和可焊性试验后的电子元器件分别进行合格判定;如合格则进入下一步骤;4)将合格的电子元器件焊接到电路板上,根据电子元器件在用户现场的实际应用环境,评估开展温度循环试验或者温度振动组合试验;5)对步骤4)中试验后的电子元器件开展焊点形貌测试及电性能测试,并根据测试结果评估焊接的可靠性。本发明具有全面性强、评估可靠、保障产品在现场可靠应用等优点。
搜索关键词: 一种 电子元器件 焊接 可靠性 组合 评估 试验 方法
【主权项】:
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