[发明专利]IC芯片电磁兼容性测试方法、装置和可读存储介质在审
| 申请号： | 202010968226.6 | 申请日： | 2020-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN112213617A | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 史如新;马振国;刘晓康;苏佳华;许霖;张伟;嵇建飞 | 申请（专利权）人： | 国网江苏省电力有限公司常州供电分公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市君之泉知识产权代理有限公司 44366 | 代理人： | 吕战竹 |
| 地址： | 213000*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种IC芯片电磁兼容性测试方法、装置和可读存储介质，其中，该方法应用于测试装置，测试装置包括测试探头和阻抗匹配网络；先校准测试探头，然后将测试探头连接IC芯片的待测试引脚，阻抗匹配网络连接实验接收机，阻抗匹配网络中设置有16.8nF电容；方法包括如下步骤：获取实验接收机的输出电压，并获取输出电压对应的测试频率；基于测试频率与电压阈值之间的映射关系获取测试频率对应的电压阈值，并判断输出电压是否大于电压阈值；若输出电压大于电压阈值，则判定待测试引脚不符合电磁兼容性要求；若输出电压小于或者等于电压阈值，则判定待测试引脚符合电磁兼容性要求。本发明提高了IC芯片电磁兼容性的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | ic 芯片 电磁 兼容性 测试 方法 装置 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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