[发明专利]测试电路及显示面板测试方法有效

专利信息
申请号: 202010968733.X 申请日: 2020-09-15
公开(公告)号: CN112015017B 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 曹志浩;聂晓辉 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G09G3/00;G02F1/133;G02F1/1343
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 杨艇要
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开了一种测试电路及显示面板测试方法,所述测试电路用以测试显示面板,其包括:至少两个测试端子;至少两个薄膜晶体管,每一薄膜晶体管的源极电连接至一个测试端子,每一薄膜晶体管的漏极电连接至显示面板的显示区;驱动IC,其信号输出端电连接至所述显示面板的显示区和所述薄膜晶体管的漏极;保护电路,连接至所有薄膜晶体管的栅极;当所述测试端子之间未发生短路时,所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入高电平;当所述测试端子之间发生短路时,所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入低电平。
搜索关键词: 测试 电路 显示 面板 方法
【主权项】:
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